Zc = + i-c = tec +ibc)-- Ha основании определения коэффициента шума и параметров R

р ШВХ ШВХ 9 ШВХ ,Q 9Q\

Это представление коэффициента шума часто используется как основа методики его измерения [3, 50 - 53]. Можно представить коэффициент шума и через выходные параметры, в частности через шумовое отношение t. Если коэффициент передачи по мощности четырехполюсника обозначить через G, то мощность теплового шума источника сигнала на выходных полюсах четырехполюсника составит kTGAf, и на основании определений коэффициента шума и шумового отношения имеем

Т. е. F есть отнесенное ко входу диода шумовое отношение.

Знание коэффициента шума позволяет непбсредственно определить минимальную мощность сигналаРмин, который может быть обнаружен на фоне шумов четырехполкэсннка (например, смесителя или усилителя), согласованного с источником сигнала:,

Pu«nFkTAf.

В зависимости от того, является ли сопротивление источника сигнала большим, малым или оно согласовано с выходным сопротивлением днода, выгодно добиваться уменьшения Т, или F соответственно.

Измерение шумовых параметров диодов. Все существующие методы измерения шумовых параметров диодов могут быть выведены нз определений измеряемых параметров и сводятся к измерению мощности шума на выходных полюсах диода. Поскольку эта мощность, как правило, очень мала, для этой цели необходим усилитель в сочетании с детектором на его выходе. Наиболее удобно производить измерения, если усилитель линеен, а детектор квадратичен. В этом случае показания выходного прибора прямо пропорциональны мощности шума. Однако допустимо и несоблюдение этих требований, но при этом выходной прибор должен быть проградунрован непосредственно в единицах мощности

шума на входе усилителя с помощью некоторого эталонного источника шума (шумового диода, проволочного резистора и др.)- Пределы линейности усилителя должны по крайней мере в три раза превышать максимальное эффективное значение измеряемого шума, учитывая то обстоятельство, что измеряемый шум имеет мгновенные значения, намного превышающие его среднеквадратичное значение-Выбор полосы пропускания усилителя Д/ и постоянной времени т детектора с измерительным выходным прибором определяется тем, что вероятная ошибка отсчета, связанная с флуктуациями показания выходного прибора, равна 1/у2тД/. Поэтому величину Д/ стараются сделать возможно большей, а величину т выбиракэт из требуемой точности и удобства измерений- Следует отметить, что еслн измеряемый спектр шума зависит от частоты, то величина Д/должна быть такой, чтобы в ее пределах спектральная плотность оставалась приблизительно постоянной. Обычно достаточно бывает, еслн А/ на порядок меньше, чем средняя частота полосы пропускания усилителя.

ЛИТЕРАТУРА

1. Ван дер Зил А. Флуктуационные явления в полупроводниках. Изд-во иностранной литературы, 1961.

2. S а U t t е г. D. Шумы в полупроводниках. В сб. Progress in semiconductors, 1960, v. 4, p. 125-153.

3. Ван дер Зил А. Флуктуации в радиотехнике и физике. Госэнергоиздат, 1958.

4. В е 1 1 D. А. Electrical noise. Электрические шумы. London, 1960.

5. F о п g е г W. Н. Шумы в электронных приборах. В ф. «Transistors», v. 1, p. 26, New Jersey, 1956.

6. M и p л и H Д. Н. Электрические флуктуации в полупроводниках. В сб. «Полупроводники в науке и технике», т. II, стр. 516. Госэнергоиздат, 1958.

7. С U gg е п b U eh 1 W. М., S t г а t t. J. О. Теории и экспериментальное исследование дробового шума полупроводниковых плоскостных диодов и транзисторов. Ргос. IRE, 1957, V. 45, № 6. р. 839-854.

8. Van der Ziel А. Теория дробового шума в плоскостных диодах и транзисторах. Ргос. IRE, 1957, v. 45, № 7, p. 1011.

9. Van der Ziel A. Теория дробового шума в плоскостных диодах и транзисторах. Ргос. 1RE, 1955, v. 43, № И, р. 1639- 1646-

10. Turner В. е.. Burgess R. Е. Шум прямого туннельного тока в туннельных диодах при малых смещениях. Canad. J. Phys, 1964, V. 42, № 6, р 1046-1057.

ЗВ Зак. 1758 57 . .

и. S е h n е i d е г В., S t г а t t М. J. О. Теория и экспериментальное исследование дробового шума в кремниевых плоскостных диодах и транзисторах. Ргос. IRE, 1959, v. 47, № 4, p. 546.

12. М а t а г е Н. Р. Теория шума диодов и транзисторов. Ргос 1RE, 1958, V. 46, № 12, р. 1964-1965.

13. Van d е г Z i е 1, А. В е е к i п g А. G. Т. Теория шума плоскостных диодов и транзисторов. Ргос. IRE, 1958, v. 46, № 3, p. 589.

14. N i с о 1 G. R. Шум в кремниевых СВЧ-диодах. Ргос IRE. 1954, V. 101, 111, № 73, p. 317-234.

15. S h er г S., King S. Лавинный шум р-п переходов. Semi-cond. prod, 1959, v. 2, № 5, p. 21.

16. С h a m p 1 i n K- S. Флуктуации микроплазм в кремнии-J. Appl. Phys., 1959, V. 30, № 7, p. 1039.

17. M с Sutyre R. J. Теория нестабильности микроплазм в кремнии. J. Appl. Phys,, 1961, v. 32, № 6, p. 983.

18. Haitz R. H., Goetsberger A. Изучение шума лавины в микроплазмах и однородных переходах. Sol. st. electr., 1963, V. 6, p. 678.

19 Т a г e p A. C. Ф.п.уктуации тока в полупроводнике в условиях ударной ионизации и лавинного пробоя. ФТТ, 1964, т. 6, стр. 2418-2427.

20. М е 1 с h i о г И., Strut! М. J. О. Измерение и изучение весьма высоких температур шума кремниевых диодов в области пробоя. Z. tsch. Naturforsch. 1964, Bd, 19а, № 5, S. 563-572.

21. F о 1 1 m е г W. С. Низкочастотный шум в обращенных туннельных диодах. Ргос. IRE, 1961, v. 49, № 12, p. 1939-1940.

22. N i с о 1 G. R. Шум в кремниевых СВЧ диодах. Ргос. IRE, 1954, V. 101, III, № 73, p. 317-324.

23. Lee С. A., Kaminsky Q. Исследование температурной зависимости шума в диодных и транзисторных структурах. J. Appl. Phys, 1955, V. 30, № 12, p. 1849-1855.

24. Bosh В. G., Gambling W. A., W i 1 m s h a г t Т.Н. Избыточный шум в СВЧ смесительных диодах. Ргос. 1RE, 1961, V. 49, № 7, р. 1226-1227.

25. М i 1 1 е г Р. Н. Спектор шума кристаллических выпр ямите-лей. Ргос. IRE, 1947,- v. 35, p. 252.

26. Е n g S. Т. Новый диод с малым 1 -шумом. Эксперименты, теория, способ изготовления. Sol.. St. Electron, 1965, v. 8, № 1, p. 59.

27. Pearson G. S., Montgomery H. C, F e 1 d-man N. L. Шум в p-n переходах кремниевых фотоэлементов. J. Appl. Phys, 1956, V. 27, № 1, p. 91.

28. В a к e r D. K. Фликкер-шум в германиевых выпрямителях на очень низких и звуковых частотах. J. Appl. Phys., 1954, V. 25, № 7, p. 922-927.

29. Н е n d г у А. Температурная зависимость шумового температурного отношения в германиевых диодах. Brit. J. Appl. Phys., 1958, V. 9, № 11, p. 458-460.

30. Hyde F. J. Измерение спектра шума точечных германиевых выпрямителей. Ргос. Phys., Soc, 1953, v. 66В, pt. 12, p. 1017- 1024.