ипраЗляющий сигнал

Схема срлагоб

Селектор конъюнктивных термоб

Входная схема

Схемы И

Схема проверки четности по И[М

Внешние

Схемы ИШ

Схема проверки четности по И

ИЙ7 W„., W„f

-о, -а

Ot -Ом

Рис. 29. Самоконтролируемая ПЛМ

W,n+i) формирует значение Y, подаваемое на вход регистра RK, следующим образом:

Y = ZBi + ZyBsBi + ZBBi + izBrn+a-

Задание режима контроля ПЛМ производится по управляющему сигналу, поступающему на входы селектора конъюнктивных термов и входной схемы.

Перед началом проверки в регистры RI и RK ПЛМ заносится начальный тестовый набор Тц (табл. 7).

Процесс проверки протекает циклически. В каждом цикле сигналы, получаемые по текущему тестовому набору, поступают на входы ГОС. При этом сигналы Вц-з, В+и поступают непосредственно с выхода ПЛМ, а Zj и Zg- путем преобразования выходных сигналов ПЛМ по И и по ИЛИ.

В ГОС формируется значение Y.

При отсутствии неисправностей по сигналу Y в регистрах RK, RI формируется следующий тест. Наборы генерируемых тестов на различных тактах работы представлены в табл. 7. Общее количество тестовых наборов равно п + 2т + 8.

Прохождение последнего теста показывает отсутствие отказов в ПЛМ и в дополнительных схемах. В таких ПЛМ выявляются все одиночные перекрестные дефекты в схемах И и ИЛИ, включая дефекты дополнительных линий, все одиночные константные неисправности в схемах проверки четности по И и ИЛИ и все неисправности входной схемы и селектора конъюнктивных термов [58].

Перекрестные дефекты состоят в прохождении входных сигналов по не заданному пути. Например, проверка перекрестных дефектов по линиям Wl, Wm-i-3 производится пу-тем задания тестов Tj таким образом, что единица появляется лишь по одной из этих линий. При отсутствии дефектов Z2= 1. При наличии дефекта на Wj в схемах ИЛИ сумма подключенных точек в /-м столбце становится четной и 2= 0. Следствием дефекта является установка на выходе Y единичного сигнала.

Контроль схем проверки четности по И производится с помощью тестов Т,, Ti, . .. , Т. С помощью тестов Ti.....4/п+4 выявляются дефекты в схемах проверки четности по ИЛИ. Выявление отказов в схемах производится с помощью тестов Тц.....Ti„.

Таким образом, применение достаточно простого аппаратного контроля в ГШМ обеспечивает обнаружение большинства одиночных неисправностей.

При длительной эксплуатации ПЛМ на основе СБИС возможно возникновение нескольких неисправностей. Контроль и диагностирование в этом случае требуют большого количест-

Таблица 7

Примечание, е.

0, еслн / четное;

1, еслн / нечетное.